利用Innography进行专利情报分析——以OLED为例

战玉华, 潘乐影, 程爱平

图书情报工作 ›› 2013, Vol. 57 ›› Issue (18) : 104-109.

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图书情报工作
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图书情报工作 ›› 2013, Vol. 57 ›› Issue (18) : 104-109. DOI: 10.7536/j.issn.0252-3116.2013.18.018 CSTR: 10.7536/j.issn.0252-3116.2013.18.018
情报研究

利用Innography进行专利情报分析——以OLED为例

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Patents Analysis by Innography：Taking OLED as an Example

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