图书情报工作 ›› 2013, Vol. 57 ›› Issue (18): 104-109.DOI: 10.7536/j.issn.0252-3116.2013.18.018
战玉华, 潘乐影, 程爱平
Zhan Yuhua, Pan Leying, Cheng Aiping
摘要: 指出作为众多专利分析工具中的一种,Innography具有专利检索、统计分析及核心专利挖掘等功能。以典型课题有机发光二极管(OLED)为例,探索Innography在专业情报分析中的价值,阐述如何利用Innography获取全球专利信息,利用专利强度指标挖掘核心专利,对相关专利进行统计分析,得出科学的结论。总结Innography的特点及不足,强调专利情报分析必须准确和全面。
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