情报研究

有效专利失效速率测度方法研究

  • 张娴 ,
  • 许海云 ,
  • 方曙 ,
  • 刘春江 ,
  • 曾荣强
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  • 1. 中国科学院成都文献情报中心;
    2. 中国科学院大学
张娴,中国科学院成都文献情报中心情报研究部副主任,副研究员,中国科学院大学博士研究生,E-mail:zhangx@clas.ac.cn;许海云,中国科学院成都文献情报中心情报研究部助理研究员;方曙,中国科学院成都文献情报中心主任,研究员,博士生导师;刘春江,中国科学院成都文献情报中心信息技术部助理研究员;曾荣强,中国科学院成都文献情报中心信息技术部助理研究员。

收稿日期: 2014-04-14

  修回日期: 2014-06-07

  网络出版日期: 2014-07-05

基金资助

本文系中国科学院知识产权专项工作“中国科学院知识产权信息服务”(项目编号:KFJ-EW-STS-032)和中国科学院西部之光-西部博士项目“基于内容分析的领域核心专利挖掘及专利权人竞合态势分析方法研究”(项目编号:Y4C0011001)研究成果之一。

Study on Measurement Methods of Stock Ratio and Failure Rate for Patents in Force

  • Zhang Xian ,
  • Xu Haiyun ,
  • Fang Shu ,
  • Liu Chunjiang ,
  • Zeng Rongqiang
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  • 1. Chengdu Documentation and Information Center, Chinese Academy of Sciences, Chengdu 610041;
    2. University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190

Received date: 2014-04-14

  Revised date: 2014-06-07

  Online published: 2014-07-05

摘要

在总结有效专利统计分析方法的基础上,针对专利存量理论和专利法律状态信息更新特征,设计跟踪式有效专利存量比率计算模型。在此基础上,进一步利用负指数函数提出用以表征有效专利失效速率的专利失效系数。针对国内某科研机构开展的实证分析结果显示:所构建的跟踪式有效专利存量比率计算模型和专利失效系数能够较好地反映机构的有效专利动态发展特征,可作为开展有效专利分析的重要手段。最后,对该模型与指标的应用前景进行讨论。

本文引用格式

张娴 , 许海云 , 方曙 , 刘春江 , 曾荣强 . 有效专利失效速率测度方法研究[J]. 图书情报工作, 2014 , 58(13) : 90 -94,74 . DOI: 10.13266/j.issn.0252-3116.2014.13.015

Abstract

In this paper, we reviewed the existing measurement methods for patents in force, then according to the patent-stock theory and the updating features of patent law-status information, we designed a stock-ratio calculation model for patents in force based on the tracking mode. Furthermore, we proposed a patent-failure-rate coefficient to characterize the failure rate of patents in force, which derived from the negative exponential function index. An empirical analysis was carried out for a domestic institution. It was verified the above-mentioned stock ratio model in tracking mode and the patent-failure-rate coefficient could be employed jointly to demonstrate the dynamic evolution of the validity of the patents well. So they could be both used as important and effective analysis tools for patents in force. Finally, we discussed the future prospects of these indicators.

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